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能量吸收能力:
能量吸收能力Wmax=Vmax·Imax·tmax其中Imax由降額曲線上查到;Vmax可從I-V特性曲線上讀取,對應(yīng)Imax時的電壓值;tmax可用矩形法求得,數(shù)據(jù)是用2ms方波,加100次脈沖,脈沖間隔120s,|ΔU1mA/ U1mA |≤10%所能吸收的能量。單位體積的能量吸收能力E上限為200-250J/cm3,也有報道超過1000J/cm3的
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壓敏電阻介入系統(tǒng)后,除了起到'安全閥'的保護(hù)作用外,還會帶入一些附加影響,這就是所謂'二次效應(yīng)',它不應(yīng)降低系統(tǒng)的正常工作性能。這時要考慮的因素主要有三項,一是壓敏電阻本身的電容量(幾十到幾萬PF),二是在系統(tǒng)電壓下的漏電流,三是壓敏電阻的非線性電流通過源阻抗的耦合對其他電路的影響。
源林電子是一家專業(yè)研發(fā)、生產(chǎn)壓敏電阻的高科技電子元器件企業(yè)。主營壓敏電阻、熱敏電阻和溫度傳感器,自有研發(fā)團(tuán)隊,廠家直銷!
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壓敏電壓U1mA
壓敏電阻的線性向非線性轉(zhuǎn)變的電壓轉(zhuǎn)變時,位于非線性的起點電壓正好在I-V曲線的的拐點上,該電壓確定為元件的啟動電壓,也稱為壓敏電壓,是由阻性電流測試而得的。由于I-V曲線的轉(zhuǎn)變點清晰度不明顯,多數(shù)情況下是在通1mA電流時測量的,用U1mA來表示。對于一定尺寸規(guī)格的ZnO壓敏電阻片,可通過調(diào)節(jié)配方和元件的幾何尺寸來改變其壓敏電壓。亦有使用10mA電流測定的電壓作為壓敏電壓者,以及使用標(biāo)稱電流測試者,標(biāo)稱電壓定義為0.5mA/cm2,電流密度測定的電場強(qiáng)度E0.5表示,對于大多數(shù)壓敏電阻器而言,這個值更接近非線性的起始點。3. 漏電流IL壓敏電阻器進(jìn)入擊穿區(qū)之前在正常工作電壓下所流過的電流,稱為漏電流IL。漏電流主要由三部分貢獻(xiàn):元件的容性電流,元件的表面態(tài)電流和元件晶界電流。一般對漏電流的測量是將0.83倍U1mA的電壓加于壓敏電阻器兩端,此時流過元件的電流即為漏電流。根據(jù)壓敏電阻器在預(yù)擊穿區(qū)的導(dǎo)電機(jī)理,漏電流的大小明顯地受到環(huán)境溫度的影響。當(dāng)環(huán)境溫度較高時,漏電流較大;反之,漏電流較小??梢酝ㄟ^配方的調(diào)整及制造工藝的改善來減小壓敏電阻器的漏電流。研究低壓元件的漏電流來源是很重要的,為了促進(jìn)ZnO晶粒的長大,低壓元件中通常會添加大量的TiO2,過量摻雜造成壓敏元件漏電流增大[6]~[9],在元件性能測試時容易引入假象,例如壓敏電壓和啟動電壓偏離較大。測試元件的非線性時,我們希望漏電流以通過晶界的電流為主。但低壓元件普遍存在吸潮現(xiàn)象,初燒成的低壓元件漏電流可以保持在4~20μA內(nèi),放置8~24h后,元件的漏電流可以增大到200μA。這樣的元件的晶界非線性并沒有被破壞,但卻表現(xiàn)出非線性低,壓敏電壓也稍有降低的表象。
由于壓敏電阻型號太多,篇幅有限,恕不一一呈現(xiàn),欲知詳請,歡迎撥打圖片中的咨詢電話與我們源林電子聯(lián)系,謝謝!
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